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避免测量问题
条件 | 影响 | 建议 |
应用于 被测 设备 (DUT)的 功率 | 电阻元件中的自加热引起温度效应和相应的电阻变化。 | - 使用低测试信号或脉冲测量。
- 散热DUT。
- 允许电阻功率系数的影响。
- 使用低功率系数组件。
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施加到DUT的高压 | 一些高阻电阻具有显着的电阻电压系数。 | - 使用低电压系数组件。
- 在低电压下测量。
- 允许电阻电压系数的影响。
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环境温度 | 温度系数影响;大的运输或储存温度变化可能导致永久性回扫效应。 | |
湿度 | 湿度可能会对高阻部件造成泄漏影响。 | |
热电动势 | 热电动势,即在温度梯度下在不同金属的触点处产生的电压,可能导致错误的电压和电阻测量。 | - 使用铜。去铜。尽可能接触和引导;银触点和焊料是可以接受的。
- 避免使用钢和黄铜。
- 最大限度地减少温度梯度或气流。
- 使用开关或“真欧姆”测量仪器。
- 替代导致确定问题的程度。
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低阻力 | 引线电阻和热电动势可能会引入误差。 | |
高阻力 | 由湿度引起的铅绝缘和台面泄漏可能会导致错误。 | - 使用低泄漏绝缘材料,如铁氟龙
- 将DUT设置在高绝缘子板上。
- 保持所有终端清洁。
- 屏蔽并避免高压和附近的移动。
- 使用5或6个端子保护电路。
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接地回路 | 接地电流会引入噪声和失调电压。 | |
测试条件 | 大多数电阻器,电容器和电感器都不理想;线绕电阻器是电感式和电容式的;电容器有损耗,电感器可能非常电阻。电压,频率和模型(并联或串联)的测试条件对于测量可能是重要的。 | |